• GTEM - Praxisseminar
• Workshop - Modenverwirbelungskammer
• ISN - Praxisseminar
• NSG 4070 - Praxisseminar

Aufbauend auf dem Inhalt der DIN EN 61000-4-20 wird die Vorgehensweise für Störfestigkeits- und Emissionsmessungen besprochen. Ein Schwerpunkt liegt auf der Klärung von praktischen Fragen zur Prüflingspositionierung, der Kabelanordnung und der Entkopplung von Zuleitungen. Dabei wird hilfreiches Zubehör vorgestellt und erläutert.
Auftretende Probleme aus der bisherigen Arbeit können auf Grund der geringen Teilnehmerzahl ausreichend erörtert werden. Nach der theoretischen Behandlung des Vergleichs von Messergebnissen mit anderen Testumgebungen wird eine praktische Vergleichsmessung zwischen einer GTEM-Zelle und einer Absorberhalle durchgeführt.

Referent: Uwe Karsten - Laborleiter

Lernziel:

• besseres Verständnis der Feld-Messeinrichtung GTEM-Zelle,
• Möglichkeiten und Grenzen,
• Interpretation von Messergebnissen,
• Vermeidung von Messfehlern durch optimalen Messaufbau,
• Erkenntnisse über den Vergleich von GTEM-Zelle und Absorberhalle.

Zielgruppe:

Ingenieure und Techniker, die bereits mit einer GTEM-Zelle arbeiten oder sich mit dem Thema näher beschäftigen wollen.

Teilnehmerzahl: max. 8 Personen

Termine: 26./27. März 2012 und 24./25.September 2012

1. Tag (10:00 - 17:00 Uhr)

Überblick TEM - Wellenleiter

DIN EN 61000-4-20

• Physikalische Grundlagen der GTEM-Zelle

• Störfestigkeitsprüfungen
• Emissionsmessungen
• Kalibrierung als Voraussetzung der Arbeit

Messaufbau

• Prüflingspositionierung
• Anwendung eines Manipulators
• Leitungsanordnung
• Leitungsentkopplung
• Filtereinflüsse

2. Tag (9:00 - 16:00 Uhr)

• Korrelationsalgorithmus
• Vergleich zum Freifeld
• Vorteile und Grenzen der Anwendung

• Rückführung der Feldstärke

• Vergleich Emissionsmessung GTEM Zelle – Absorberhalle

• Es besteht die Möglichkeit, kleine eigene Prüflinge mitzubringen

Diskussion

• Klärung individueller Fragen

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Modenverwirbelungskammern (MVKn) stellen eine interessante Ergänzung zu den etablierten Verfahren zur Durchführung von gestrahlten EMV-Messungen und Prüfungen dar. Zahlreiche Vorteile machen die Modenverwirbelungskammer als Testumgebung insbesondere im höheren Frequenzbereich attraktiv. Dazu gehören z.B. die erreichbaren hohen Feldstärken bei relativ geringer Eingangsleistung und der vergleichsweise einfache und kostengünstige mechanische Aufbau ohne Absorber, so dass Modenverwirbelungskammern insbesondere auch für kleinere Firmen interessant sind.

In dem Workshop werden die theoretischen Grundlagen zum Verständnis der Modenverwirbelungskammer und verschiedene Aspekte der praktischen Anwendung vermittelt, die durch anschauliche praktische Vorführungen untersetzt werden.

Referenten: Dr. Heinrich / Entwicklungsleiter und Andreas Lange / Projektingenieur

Lernziel:

• Verständnis der Grundlagen der MVK

• Möglichkeiten, Vorteile und Grenzen ihrer Anwendung

• Beurteilung der Nutzungsmöglichkeit vorhandener Schirmräume

Zielgruppe:

Ingenieure und Techniker, die sich in der Elektronikentwicklung mit EMV-Problemen auseinandersetzen müssen.

Teilnehmerzahl: max. 8 Personen

Termine: 28. März 2012 und 26. September 2012, Tagesseminar (9:00 - 16:30 Uhr)

Grundlagen

• Aufbau, Funktionsweise, Güte, Kalibrierung,
• Besonderheiten gegenüber anderen Verfahren

Anwendung Emission

• Messaufbau, Beladungsscheck, Berechnung der abgestrahlten
• Leistung, Fernfeldabschätzung

Anwendung Störfestigkeit

• Messaufbau, Berechnung der Eingangsleistung für Sollfeldstärke

Paktischer Teil

• Praktische Vorführungen

Dimensionierungs- und Bemessungsgrundlagen

• Kriterien zur Beurteilung und Auswahl von MVK
• Abschätzung von LUF, Eingangsleistung und erreichbarer
• Feldstärke
• Nutzungsmöglichkeit vorhandener Schirmräume

Normative Anwendungen

• Vergleich der Normen
• Besonderheiten

Diskussion

• Klärung von offenen Fragen
• ggf. weitere praktische Vorführungen

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Das Seminar erläutert die Emissionsmessungen am TK-Ports nach CISPR 22 (EN 55022). Profitieren Sie von den Erfahrungen des ISN-Herstellers. Ausgehend von den Anforderungen an die ISNs wird deren Wirkungsweise im Bezug zum LCL besprochen. Nach Rückblick in die Historie der Normung liegt der Schwerpunkt auf der Klärung von praktischen Fragen zur Auswahl der richtigen Messmethode, Kabelkategorie und Datenrate. Dabei werden Unterschiede vorgestellt und erläutert.

Auf Grund der limitierten Teilnehmerzahl können individuelle Fragen geklärt werden.

Nach dem theoretischen Teil werden realistische Messung am TK-Port durchgeführt und bewertet.

Referent: Andreas Klink / Produktmanager

Lernziel:

Der Anwender beherrscht die Methoden zur Messung am TK-Ports nach CISPR 22 (EN 55022).

Der Teilnehmer erkennt und versteht die Wirkungsweise der Unsymmetriedämpfung, den Bezug zur Kabelkategorie und deren Einfluss auf das Messergebnis.

Zielgruppe:

Ingenieure und Techniker, die sich in der Elektronikentwicklung mit EMV-Problemen auseinandersetzen müssen.

Teilnehmerzahl: max. 8 Personen

Termine: 29. März 2012 und 24. Oktober 2012, Tagesseminar (10:00 - 17:00 Uhr)

Überblick CISPR 22

• Messmethoden für den TK-Port
• Anforderungen an die Netzwerke und den Prüfaufbau

Kabelkategorie

• LCL und deren Wirkung

Messmethoden

• normative Anforderungen,
• Vergleich von Messergebnissen

Einfluss

• von Kabelaufbau,
• LCL,
• Messmethode 
• Datenrate

Spezifikation des Prüflings

• Beispiel aus der Praxis
• Einschätzung des Prüflings
• Erstellung des Prüfplans

Das Seminar erläutert die Anwendung des NSG 4070 bei Störfestigkeitsprüfungen nach IEC/EN 61000-4-6 und Automotive BCI. Profitieren Sie von den Erfahrungen des Herstellers. Ausgehend von den aktuellen normativen Anforderungen wird die erweiterte Bedienung des Gerätes und dessen Zubehör erklärt. Das Seminar bezieht sich auch auf Weiterentwicklungen in Hard- und Software.
Auf Grund der limitierten Teilnehmerzahl können individuelle Fragen geklärt werden.

Referent: Andreas Klink / Produktmanager

Lernziel:

Der Anwender beherrscht die Gerätebedienung
Der Teilnehmer versteht den normativen Hintergrund.

Zielgruppe:

Ingenieure und Techniker, die bereits mit dem NSG 4070 arbeiten oder sich mit dem Thema näher beschäftigen wollen.

Teilnehmerzahl: max. 8 Personen

Termine: 30. März 2012 und 25. Oktober 2012, Tagesseminar (10:00 - 17:00 Uhr)

IEC/EN 61000-4-6

• normative Anforderungen an Prüftechnik und -platz
• Kopplungsmethoden, Besonderheiten

Überblick NSG 4070

• Schnittstellen, Bedienelemente, Software, EUT-Monitoring

Prüfung

• nach IEC/EN 61000-4-6, Kalibrierung und Test

Automotive BCI

• normative Anforderungen und Unterschiede zu IEC/EN 61000-4-6

  Kopplungsmethoden, Besonderheiten

BCI Prüfung

• nach ISO 11452-4, Kalibrierung und Test